Analog Devices Inc. ADAQ23878 μモジュールデータ収集ソリューション

Analog Devices Inc. ADAQ23878 μモジュールデータ収集ソリューションは、高精度測定システムの開発サイクルを短縮します。このソリューションは、コンポーネントの選択、最適化、レイアウトの設計負担を設計者からデバイスに移管することでこれを達成しています。ADAQ23878は、システムインパッケージ(SIP)テクノロジーを採用しており、単一デバイスに複数の共通信号処理およびコンディショニングブロックを組み合わせることでエンドシステムの部品数を削減します。これには、低ノイズ、完全差動ADCドライバアンプ(FDA)、安定したリファレンスバッファ、高速18ビット、15MSPS逐次比較レジスタ(SAR)ADCが含まれます。

特徴

  • 信号スケーリングを備えた集積完全差動ADCドライバ
    • 幅広い入力コモンモード電圧範囲
    • 高い同相ノイズ除去性能
  • シングルエンド/差動変換
  • オーバーレンジの入力範囲をピンで選択可能
    • 4.096V REFBUFでの入力範囲:±10V、±5V、±4.096V、 ±2.5V、±1.5V
  • ゲイン/減衰オプション:0.37、0.73、0.87、1.38、2.25
    • 重要な受動部品
    • FDA用0.005%の高精度整合抵抗アレイ
  • 9mmx9mm、ピッチ0.8mm、100-ball CSP_BGAパッケージ
    • 2.5倍のフットプリント削減対ディスクリートソリューション
  • 低消費電力、ダイナミックパワースケーリング、パワーダウンモード
    • 15MSPSで標準143mW
  • スループット15MSPS、パイプライン遅延なし
  • INLエラー標準±3.1ppm、最大±6.2ppm
    • (ゲイン=0.73、ゲイン=0.87、ゲイン=1.38、ゲイン= 2.25)
  • SINAD:90.4dBで標準20kHz(ゲイン=0.73)
  • THD−117dB@1kHz、−110dB@100kHz(ゲイン=0.73)
  • ゲインエラー:標準±0.005%FS
  • ゲインエラードリフト±0.13ppm/°C標準
  • VCMO生成を用いたオンボードリファレンスバッファ
  • シリアルLVDSインターフェイス
  • -40°C~+85°Cの広い動作温度範囲。

アプリケーション

  • 自動テスト装置
  • データ収集
  • ループでのハードウェア(HiL)
  • パワーアナライザ
  • 非破壊テスト(音響放射)

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ブロック図

ブロック図 - Analog Devices Inc. ADAQ23878 μモジュールデータ収集ソリューション
公開: 2022-03-03 | 更新済み: 2023-08-14