NXP Semiconductors RD33774PDSTEVB評価ボード

NXP Semiconductors   RD33774PDSTEVB評価ボードは、最大18セルを監視するMC33774ATPバッテリセル・コントローラ集積回路(IC) 1台が搭載しています。このRD33774PDSTEVB評価ボードには、最大200mAピーク統合パッシブセルバランシングが備わっています。RD33774PDSTEVB評価ボードは、高電圧バッテリマネジメントシステム(HVBM) ハードウェアとソフトウェアの急速なプロトタイピングに最適です。この評価ボードは、物理層トランス・トランシーバ・ドライバ（MC33664）と共に で使用され、MCU SPI データ・ビットをパルス・ビット 情報に、またはその逆に変換します。代表的なアプリケーションには、車載および工業デバイスがあります。