Texas Instruments DLP670REEVM DMD評価モジュール (EVM)

Texas Instruments DLP670REEVM DMD評価モジュール (EVM) は、DLPC4430EVMと組み合わせると、DLP 0.67インチWUXGAシステムのプロトタイプ製作期間を短縮できます。Texas Instruments DLP670REEVMは、DLPC4430EVMとのペアとして設計済みの0.67インチWUXGAデジタル・マイクロミラー・デバイス (DMD) を評価するソリューションを実現し、スプラッシュ、テスト・パターン、およびHDMI ソース (信号源) から受信した動画をDMDに表示できます。

特徴

  • WUXGA (1920x1200) の表示解像度
  • 7.56µmのマイクロミラー間隔
  • ±12°のマイクロミラー傾斜角 (平坦な状態に対する相対角度)
  • コーナー照明
  • 2個のLVDS入力データ・バス

ボードレイアウト

Texas Instruments DLP670REEVM DMD評価モジュール (EVM)
公開: 2024-02-19 | 更新済み: 2024-02-29