Texas Instruments DRV425高精度フラックスゲート磁界センサ

Texas Instruments DRV425高精度フラックスゲート磁界センサは、単軸磁場検出アプリケーション用に設計されています。このセンサによって、電気的に絶縁された高感度精密DC/ACフィールド測定が可能です。デバイスは、統合フラックスゲートセンサー(IFG)と内部補償コイルを実現しており、±2mTの精度の高い検知範囲に対応しています。また、最大47kHzの測定帯域幅があります。このセンサは、低オフセット、オフセットドリフト、センサのノイズを実現しています。内部補償コイルによって提供される精密ゲイン、低ゲインドリフト、非常に低い非直線性と組み合わされると、え結果として無類の磁場計測精度が得られます。DRV425の出力は、検知された磁場に比例するアナログ信号です。

特徴

  • High-precision, integrated fluxgate sensor:
    • Offset: ±8µT (max)
    • Offset Drift: ±5nT/°C (Typ)
    • Gain Error: 0.04% (Typ)
    • Gain Drift: ±7ppm/°C (Typ)
    • Linearity: ±0.1%
    • Noise: 1.5nT/√Hz (Typ)
  • Sensor range:
    • ±2mT (max) range and gain adjustable with external resistor
  • Selectable bandwidth: 47kHz or 32kHz
  • Precision reference:
    • Accuracy: 2% (max), Drift: 50ppm/°C (max)
    • Pin-selectable voltage: 2.5V or 1.65V
    • Selectable ratiometric mode: VDD / 2
  • Diagnostic features: overrange and error flags
  • Supply voltage range: 3.0V to 5.5V

アプリケーション

  • Linear position sensing
  • Current sensing in busbars
  • Over-the-trace current sensing
  • General-purpose magnetic-field sensors

Functional Block Diagram

ブロック図 - Texas Instruments DRV425高精度フラックスゲート磁界センサ
公開: 2015-12-02 | 更新済み: 2023-10-27