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Texas Instruments ISO782xLLデュアルチャンネル絶縁LVDSバッファ

Texas Instruments ISO782xLLデュアルチャンネル絶縁LVDSバッファは、高性能の絶縁デュアルLVDSバッファで、8000VPK絶縁電圧を備えています。このデバイスは、LVDSバス信号を絶縁しながら、低電力消費で高電磁耐性および低排出を実現しています。各絶縁チャネルにはLVDS受信と送信バッファがあり、二酸化ケイ素（SiO2） 絶縁壁で絶断されています。ISO7820LLデバイスには、2つの順方向チャンネルがあります。ISO7821LLデバイスには、順方向と逆方向のチャンネルが1つずつあります。革新的なチップ設計とレイアウト技術によって、ISO782xLLの電磁両立性が大幅に強化されており、システムレベルのESD、EFT、サージ、およびエミッションコンプライアンスが緩和されました。

特徴

  • Complies with TIA/EIA-644-A LVDS standard
  • Up to 100Mbps signaling rate 
  • 2.25V to 5.5V wide supply range 
  • –55°C to +125°C ambient wide temperature range 
  • Low power consumption per channel at 100Mbps
    • Typical 9.3mA (ISO7820LL)
    • Typical 9.5mA (ISO7821LL)
  • 17ns typical low propagation delay 
  • ±100kV/μs industry-leading CMTI (min)
  • Robust Electromagnetic Compatibility (EMC)
  • System-level ESD, EFT, and surge immunity
  • Low emissions
  • > 40 years isolation barrier life
  • Widebody and extra-wide body SOIC-16 package options
  • Isolation surge withstand voltage 12800VPK
  • Safety-related certifications
    • 8000VPK reinforced isolation per DIN V VDE V 0884-10 (VDE V 0884-10):2006-12
    • 5700VRMS isolation for 1 minute per UL 1577
    • CSA component acceptance notice 5A, IEC 60950–1, and IEC 60601–1 end equipment standards
    • TUV certification per EN 61010-1 and EN 60950-1
    • GB4943.1-2011 CQC certification
    • All certifications are planned

アプリケーション

  • Motor control
  • Test and measurement
  • Industrial automation
  • Medical equipment
  • Communication systems

ISO782xLLxEVM Isolated Dual LVDS Unidirectional Buffer EVMs

Texas Instruments ISO782xLLxEVM Isolated Dual LVDS Unidirectional Buffer Evaluation Modules (EVMs) feature the ISO782xLLx Isolated Dual LVDS Buffers. The ISO782xLLx has 100Ω differential termination at the input and output. It can also support accurate measurement of eye diagram and common mode termination at the output. These evaluation modules have a provision for measuring timing parameters accurately and for output common-mode termination. Each module is tested for the device's functionality and allows the designer to evaluate the user's design with each device.

公開: 2016-12-28 | 更新済み: 2022-03-11