Texas Instruments DLP470TEEVM DMD評価モジュール (EVM)
Texas Instruments DLP470TEEVM DMD評価モジュール (EVM) は、DLPC4420AEVMと組み合わせると、DLP 0.47インチ4K UHDシステムのプロトタイプ製作期間を短縮できます。Texas Instruments DLP470TEEVMは、DLPC4420AEVMとのペアとして設計済みの0.47インチ4K UHDデジタル・マイクロミラー・デバイス (DMD) を評価するソリューションを実現し、スプラッシュ、テスト・パターン、HDMI ソース (信号源) から受信した動画をDMDに表示できます。特徴
- 4k UHD (3840 × 2160) の表示解像度
- 5.4μmのマイクロミラー間隔
- ±17°度のマイクロミラー傾斜角 (平坦な状態に対する相対角度)
- 下部光源
- 2x LVDS入力データバス
ボードレイアウト
公開: 2024-02-16
| 更新済み: 2024-02-20
