Texas Instruments ESDEVM評価モジュール (EVM)

Texas Instruments ESDEVM評価モジュール(EVM)を使用すると、TIの大半のESDポートフォリオを評価できるようになります。このボードには、あらゆる数のデバイスの試験を可能にするために、従来のすべてのESDフットプリントが備わっています。テストする必要があるデバイスは、それぞれのフットプリントにはんだ付けしてから実施できます。一般的な高速ESDデバイスには、インピーダンスが制御されたレイアウトが実装されており、Sパラメータを取り入れて組み込まれているボード・トレースを外すことができます。非高速ESDダイオードを対象に、テストポイントに対するトレースを含むフットプリントが実現しています。これらのテストポイントを使用すると、ユーザは、破壊電圧、保持電圧、漏洩といったDC試験を簡単に実行できます。また、このボードのレイアウトによって、信号ピンのいずれかに信号ピンを短絡させて任意のデバイスのピンを電力(VCC)または接地のいずれかに簡単に接続できます。

特徴

  • ほとんどのTI ESDデバイスのテストが可能
  • 各部品のテストを可能にする多くのフットプリント
  • 信号の整合性を目的としたSパラメータ試験
公開: 2018-07-11 | 更新済み: 2025-03-13